单片机控制的纱疵分级仪材料系数自动修正系统  

Material coefficient automatic correction system of yarn defect classifier controlled by single chip microprocessor

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作  者:王小娟[1] 李明[1] 

机构地区:[1]无锡商业职业技术学院,江苏无锡215153

出  处:《上海纺织科技》2006年第3期47-48,共2页Shanghai Textile Science & Technology

摘  要:简述了纱线的材料系数对纱疵分级仪检测性能的影响;提出了采用单片微机控制的材料系数自动修正系统,并介绍了实施方案。This arcticle briefly introduces the influence of the yam material coefficient on testing performance of the yarn defect classifier, put forward the idea to automatically correct yarn material co-efficient by using single chip microprocessor with its pratice also given.

关 键 词:纱疵 纱疵分级试验仪 纺纱 

分 类 号:TS103.62[轻工技术与工程—纺织工程]

 

参考文献:

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