万工显光学定位器测头的改进  

作　　者：张和鼎 

机构地区：[1]黄山佳美机电设备制造有限公司

出　　处：《工业计量》2006年第2期60-60,共1页Industrial Metrology

关 键 词：光学定位器 测头 万工显 万能工具显微镜 计量测试 局限性 外尺寸 

分 类 号：TH742[机械工程—光学工程]