场输出块损坏探因与实验  

作　　者：陈宇尧 

出　　处：《家电维修（大众版）》2006年第4期19-19,共1页Appliance Repaiping

摘　　要：在探讨场块容易损坏的原因前，我们先关注两个现象：一是场输出块损坏后大多是场输出端对地击穿；二是断开场逆程升压电容会瞬间损坏场输出块（而不是像某些书籍所说的出现回扫线）。通常场块的静态耐压在100V以上，怎么会如此容易损坏呢？答案就是过高的场逆程脉冲电压!如图所示，在逆程期间，场逆程升压电容C1除了供电作用外，还与场偏转线圈DY形成充放电（实际就是LC振荡）回路，起类似于行逆程电容的作用．升压电容大小直接影响到场逆程脉冲的幅度。该图为典型的LA7830场输出电路。虚线表示的是逆程前半段的电流方向，DY中的电流向C1充电。如果不接C1，场逆程开始后，DY与C3将谐振产生数百伏的脉冲电压，将场块内部V2击穿。

关 键 词：场输出块 损坏 场逆程脉冲 实验 升压电容 LA7830 对地击穿 脉冲电压 电流方向 行逆程电容 

分 类 号：TN949.7[电子电信—信号与信息处理] TN949.12[电子电信—信息与通信工程]