类铍离子内壳激发态1s2p^33P^o的俄歇宽度、俄歇分支率和辐射跃迁率计算  

作　　者：王跃东[1] 张孟[1]  

机构地区：[1]北京理工大学应用物理系,北京100081

出　　处：《原子与分子物理学报》2006年第B04期64-66,共3页Journal of Atomic and Molecular Physics

基　　金：国家自然科学基金资助课题（10374008）,教育部博士点基金资助课题（20020007036）和北京理工大学基础研究基金（BITUBF-200307A05）

摘　　要：采用鞍点变分方法和鞍点复数转动方法，井考虑相对论修正和质量极化效应，计算了类铍内壳激发态1s2p^33P^o的俄歇宽度、俄歇电子能量和俄歇分支率．同时还对1s2p^33P^o态到1s^22p3P^3P^e态（Z=4～10）的振子强度和辐射跃迁率进行了计算，计算结果和其他理论结果和实验数据符合的很好。

关 键 词：类镀离子 俄歇宽度 振子强度 

分 类 号：O562.4[理学—原子与分子物理]