绝缘层厚度与芯线直径测量偏离方法的比对  

Comparison about the Dissimilar Measure of the Insulation＇s Thickness and the wire＇s Diameter

作　　者：傅金波 王粤威[2] 胡永乐[2] 李坤林[2] 

机构地区：[1]西藏出入境检验检疫局,拉萨850000 [2]珠海出入境检验检疫局,珠海519015

出　　处：《现代测量与实验室管理》2006年第2期9-10,共2页

摘　　要：本文探讨了绝缘层厚度与芯线直径测量装置的选择问题。通过采用不同的测量方法进行比对实验,证明只要用满足标准规定精度的测量仪器去测量,就能达到要求,并不一定要用读数显微镜,标准中方法是可以偏离的。

关 键 词：绝缘层厚度 芯线直径 比对 方法偏离 

分 类 号：TM245[一般工业技术—材料科学与工程]