电子物理学——扫描隧道显微术中的微分谱学及其应用  

Differential spectroscopy and its application of scanning tunneling microscopy

作　　者：王炜华[1] 王兵 侯建国 

机构地区：[1]中国科学技术大学合肥微尺度物质科学国家实验室（筹）,合肥230026 [2]不详

出　　处：《中国学术期刊文摘》2006年第7期2-2,共1页Chinese Science Abstracts(Chinese Edition)

基　　金：国家自然科学基金资助（50121202,10374083）

摘　　要：介绍了扫描隧道显微术中微分谱学的原理及其在实验中的诸多应用．微分谱（dI／dV谱）和dI／dV成像可用来研究电子局域态密度在能量和空间的分布，即微分谱固定空间一点，反映电子态密度以能量为变量的分布；而dI／dV图像则反映某给定能量的电子局域态密度以空间为变量的分布．二次微分谱（d^2I／dV^2谱）和二次微分成像可以用来反映分子的非弹性隧穿过程，从而研究分子的振动态．

关 键 词：扫描隧道显微术 微分谱学 表面及纳米结构的电子态 电子非弹性隧穿 分子振动模 

分 类 号：O46[理学—电子物理学] TB383[理学—物理]