X射线照相底片常见伪缺陷及预防  

作　　者：朱建栋[1] 

机构地区：[1]河北建设集团安装工程有限公司,河北保定071051

出　　处：《无损探伤》2006年第2期45-46,共2页Nondestructive Testing Technology

摘　　要：介绍了X射线照相底片各种常见伪缺陷形成的原因、识别方法以及预防措施。

关 键 词：X射线 底片 伪缺陷 预防 

分 类 号：TG115.28[金属学及工艺—物理冶金]