HOPG和云母基底上原子力显微镜的微操作研究  

Study on the Nanomanipulation of Carbon Nanotubes Using an Atomic Force Microscope

作　　者：孙志[1] 秦水介[1] 樊永发[1] 段茂强[1] 杨子义[1] 师小卉[1] 郝荣郭[1] 

机构地区：[1]贵州大学光电子技术及应用重点实验室,贵州贵阳550025

出　　处：《中国材料科技与设备》2006年第2期27-29,共3页Chinese Materials Science Technology & Equipment

基　　金：国家自然科学基金项目（50375031）;教育部优秀青年教师资助计划项目（2003年）;春晖计划项目（批文：2003年591号）;贵州省科学基金项目（No.3014,No.3005）;贵州省国际科技合作计划项目（黔科合国字（2004）11004号）;贵州省高层次人才特助经费资助项目

摘　　要：纳米级微操作技术是制造纳米电子器件的技术基础。本文以HOPG和云母为基底，利用原子力显微镜，对碳纳米管团簇进行微操作。由于基底不同，在微操作过程中呈现不同的现象。这为彬纳米机械装配技术的研究作出了有益探索。The micro/nano- manipulation of Carbon Nanotubes （CNTs） based on an atomic force microscope （AFM） was studied in this paper. By setting the scanning force of the AFM cantilever tip the carbon nanotubes can be moved and cut on the both substrates of the HOPG and the mica. As the adhesion between the carbon nanotubes and the substrate is different, dissimilar phenomenon can be observed in the process of micro/Nano - manipulation. The effects of the scanning force of the tip, feedback and the substrate to the micro/nano - manipulation were also discussed in the paper

关 键 词：原子力显微镜 HOPG 云母 碳纳米管 彬纳米操作 

分 类 号：TH742[机械工程—光学工程] O613.71[机械工程—仪器科学与技术]