用发射光谱分析法检测地膜中金属杂质含量  

A Study of the Metallic Impusities of the Plastic Film Covering on the Farmland with Emission Spectroscopy

作　　者：徐慧[1] 康国发[1] 王国彦[1] 吕梓令 陈刚[1] 张仕平 

机构地区：[1]云南大学实验中心,云南大学地球科学系,昆明市西坝日用塑料厂

出　　处：《光谱实验室》1996年第3期49-51,共3页Chinese Journal of Spectroscopy Laboratory

摘　　要：本文描述农用薄膜中Ａｌ、Ｆｅ、Ｍｇ、Ｃａ、Ｓｉ、Ｃｕ、Ｔｉ杂质元素的发射光谱分析法，该方法直接压样于石墨电极中，简便，快速，取得了满意的结果。This paper studies of Al,Fe,Mg,Ca,Si,Cu,Ti in plastic film covering on the farmland with emission spectroscopy.This method directly pressed the specimen in the graphite electrod,so it could get the satisfactory results simply and rapidly.

关 键 词：农用薄膜 金属氧化物 原子发射光谱法 薄膜 

分 类 号：TQ320.721[化学工程—合成树脂塑料工业] O657.31[理学—分析化学]