微区晶体点阵测定的新方法  

作　　者：李会军[1] 陈玉如[1] 杨治安[1] 刘文西[1] 王建邦[2] 

机构地区：[1]天津大学 [2]太原机械学院

出　　处：《材料科学与工程》1990年第2期41-44,共4页Materials Science and Engineering

摘　　要：一、前言随着新材料的开发和凝聚态物理的发展,测定显微结构的问题变得更为突出。有七类晶体结构,包括微量相(小于1％),微小区域(数百A或更小),微少材料(几毫克),界面相,过渡相,介稳相,轻元素有序的Modulation结构,用X射线衍射难以确定,目前主要依靠电子衍射来测定。一般用电子衍射测定晶体点阵,利用会聚束电子衍射(CBED)

关 键 词：材料结构 晶体点阵 测定 显微结构 

分 类 号：TB303[一般工业技术—材料科学与工程]