基于IEEE1149.4的混合信号边界扫描测试控制器设计  被引量:10

Design of Mixed-signal Boundary-scan Test Controller Based on IEEE1149.4

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作  者:张西多[1] 易晓山[1] 胡政[1] 

机构地区:[1]国防科学技术大学机电工程研究所,湖南长沙410073

出  处:《计算机测量与控制》2006年第5期570-572,共3页Computer Measurement &Control

摘  要:简要介绍了IEEE1149.4混合信号测试总线及其特点,并根据该标准定义的测试结构对混合信号电路的测试方法进行研究,设计出符合IEEE1149.4标准的边界扫描控制器及其验证电路,实验结果表明该测试控制器能实现对混合信号电路板的测试,大大提高了混合信号电路板的可观性和可控性。IEEE1149. 4 standard and mixed-signal test bus were introduced firstly. Then according to the test structure defined in this standard, test methods on mixed-signal circuit were researched, and a boundary-scan controller and demo circuit PCB were designed. Finally, experimental results indicate that the boundary-scan controller is feasible to the test of mixed-signal circuits, and greatly improves observability and controllability of mixed-signal PCB.

关 键 词:边界扫描 可测试性 IEEE1149.4 混合信号 

分 类 号:TP212[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]

 

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