磁盘阵列RAID可靠性分析  

Reliability Analysis of RAID

作　　者：陈华英[1] 

机构地区：[1]中国民航飞行学院计算机学院,四川广汉618307

出　　处：《电子科技大学学报》2006年第3期403-405,共3页Journal of University of Electronic Science and Technology of China

摘　　要：介绍了磁盘阵列的基本概念和常用的磁盘阵列种类,分析了RAID0、RAID3和RAID10三种磁盘阵列的可靠性值,同时与实验数据进行了比较。结果表明,磁盘阵列的可靠性值基于标准模型在一定程度上可以进行量化,能进行科学的计算,得出RAID10比相应其他的RAID的容量更大,可靠性更佳。该文的可靠性分析对磁盘阵列的进一步研究和生产能起到现实的指导作用。This paper introduces the conception and common categories of Redundant Array of Inexpensive Disks （RAID）. The reliability value for three RAIDs, RAID0, RAID3 and RAID10, is analyzed. The analysis results show that the value of the reliability for RAID base on standard model can be calculated, and RAID10 is better than other RAIDS on capability and reliability.

关 键 词：磁盘阵列 可靠性 镜像 磁盘阵列控制器 

分 类 号：TP333[自动化与计算机技术—计算机系统结构]