光热辐射测量技术应用于材料物性和缺陷的无损检测  被引量:1

Photothermal Radiometric Probing of Physical Properties and Inner Defects of Matter

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作  者:李佩赞[1] 王钦华[1] 

机构地区:[1]苏州大学物理系,苏州215006

出  处:《物理》1996年第7期426-429,共4页Physics

基  金:国家自然科学基金

摘  要:描述了光热辐射测量技术的特点、原理和测量装置,并扼要介绍了材料热扩散率、材料表面伤痕和内部缺陷的无损检测.The characteristics, principles and measuring equipment of photothermal radiometry are described. A brief introduction to the measurement of thermal diffusivity of solid materials, nondestructive evaluation of surface scars and inner defects of matter is given.

关 键 词:光热辐射测量 缺陷 无损检测 红外检测 

分 类 号:TN215[电子电信—物理电子学]

 

参考文献:

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