JJG101-2004接触式干涉仪检定规程有关说明  

作　　者：殷德华[1] 

机构地区：[1]上海市计量测试技术研究院

出　　处：《上海计量测试》2006年第3期43-44,共2页Shanghai Measurement and Testing

摘　　要：由于修订规程受到各种因素的影响,无法在从根本上完全听取各方意见,以致新规程出台后,会出现不少实际操作的问题。为此,本刊特辟规程论谈专栏,登载规程在起草或修订过程中,起草或修订小组汇总各方意见后所作的说明,供大家学习交流,有不同意见的欢迎来稿。

关 键 词：检定规程 接触式干涉仪 实际操作 修订 

分 类 号：TH744.3[机械工程—光学工程]