扫描探针显微镜在导电聚合物研究中的应用  

作　　者：杨涛[1] 牛利 李壮 董绍俊 

机构地区：[1]中国科学院长春应用化学研究所电分析化学国家重点实验室,长春130022 [2]不详

出　　处：《中国学术期刊文摘》2006年第11期4-4,共1页Chinese Science Abstracts(Chinese Edition)

基　　金：国家自然科学基金资助（20475053,30070417）

摘　　要：综述了扫描探针显微镜在导电聚合物研究中的各种用途，如形貌观察、纳米加工、微观电学性质测量、电化学研究、原位测量膜厚变化等；同时对扫描探针显微镜中一些重要形式和相关技术做了介绍。并对导电聚合物研究中扫描探针显微镜未来的发展趋势做了展望。

关 键 词：扫描探针显微镜 导电聚合物 综述 

分 类 号：TQ153.12[化学工程—电化学工业] TN16[电子电信—物理电子学]