不接触电极测试薄膜的相对电容率和介质损耗因数技术研究  

Study on the Notouch Electrode Test for Relative Permittivity and Dielectric Loss Factor of Film

作　　者：王先锋[1] 李学敏[1] 罗光生 

机构地区：[1]桂林电器科学研究所,广西桂林541004

出　　处：《绝缘材料》2006年第3期57-60,共4页Insulating Materials

摘　　要：采用一种新的测试方法不接触电极测聚丙烯(PP)、聚酰亚胺(PI)薄膜的相对电容率(εr)和介质损耗因数(tanδ)。对不接触电极两种测量方法可行性进行验证。对测试过程中影响介质损耗因数(tanδ)主要因素———静电进行分析,并采用两种方法消除其影响,确保测试数据准确。Notouch electrode test for relative permittivity （ε r） and dielectric loss factor （tanδ） of polypropylene （PP） and polyimide （PI） film is a new method. Verification was made upon the feasibility of two notouch electrode measuring methods. The action of static electricity, a key factor influencing tanδ during the testing process was analyzed, and then two ways were adopted to eliminate the effects.

关 键 词：薄膜 相对电容率 介质损耗因数 不接触电极 静电 

分 类 号：TM215.3[一般工业技术—材料科学与工程] TM206[电气工程—电工理论与新技术]