嵌入式计算机并口用作电参数测试仪中数字I/O  

Parallel Port of Embedded Computer as Digital I/O in Power Tester

作　　者：董希彦 

机构地区：[1]西安威正电子科技有限公司

出　　处：《电子产品世界》2006年第07X期92-93,共2页Electronic Engineering & Product World

摘　　要：本文介绍了电参数测试仪的工作原理,对嵌入式计算机并口做了详细剖析,并根据仪器设计特点,做了成本分析,给出了BorlandC++3.1语言环境下采样模块MAX186与嵌入式计算机并口通讯的SPI接口读、写源程序。

关 键 词：嵌入式计算机 电参数测试 SPI接口 数字I/O口 A/D转换 

分 类 号：TM933[电气工程—电力电子与电力传动]