微通道流的滑移连续介质模型及其适用性  

作　　者：张根烜[1] 刘明侯[2] 张先锋[2] 叶桃红[2] 陈义良[2] 王璐[1] 

机构地区：[1]中国电子科技集团公司第三十八研究所,合肥230031 [2]中国科学技术大学热科学和能源工程系,合肥230027

出　　处：《科学通报》2006年第13期1606-1612,共7页Chinese Science Bulletin

基　　金：国家自然科学基金（批准号：50376060,10372099）资助项目.

摘　　要：采用不同滑移连续介质模型,考虑不同的进出口压比、长宽比和出口压力,对微通道中低马赫数的氦气流和氮气流进行数值分析,并采用小扰动分析方法给出不同阶滑移条件所对应的流场理论解,用实验结果和DSMC方法在不同努森数区域中检验理论模型.研究表明,滑移模型能很好地描述微通道流的可压缩效应、稀薄效应以及热蠕动效应;与一阶滑移模型相比,稀薄效应在高阶滑移模型中影响略弱;努森数和雷诺数分别表征稀薄效应和热蠕动效应的强弱;滑移的连续介质模型适用于努森数小于0.15的氮气流动,而高阶滑移模型在努森数小于0.08的滑移流区域效果更好;在努森数大于0.2的过渡区,滑移模型明显低估了稀薄效应.

关 键 词：微通道 滑移模型 扰动分析 稀薄效应 努森数 

分 类 号：O35[理学—流体力学]