AF_(2400)-SiO_2疏水复合光学薄膜制备及其表征  

Preparation and Performance of the Hydrophobic Anti-reflection AF_(2400)-SiO_2 Composite Film

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作  者:汪国庆[1] 沈军[1] 谢志勇[1] 吴广明[1] 

机构地区:[1]同济大学物理系,上海200092

出  处:《同济大学学报(自然科学版)》2006年第7期924-927,共4页Journal of Tongji University:Natural Science

基  金:国家自然科学基金重点和面上资助项目(21033040;69978017);国家"八六三"高技术研究发展计划资助项目(2002AA842052);上海科技启明星跟踪计划资助项目(05QMH1413);上海市科委科技攻关计划资助项目(055211010)

摘  要:采用溶胶-凝胶工艺制备低折射率二氧化硅(SiO2)增透薄膜,用AF2400(Telflon)对薄膜进行表面处理得到AF2400-SiO2疏水复合光学薄膜.对薄膜的表面形貌、疏水性能、光学性能等进行测试,结果显示AF2400-SiO2复合光学薄膜表面平整,折射率为1.21,疏水角可以达到110°~120°.Antireflective SiO2 coating is prepared with a sol-gel route and dip coanng ano the surface of SiO2 film is disposed with AF2400. AF2400 - SiO2 film is characterized by atomic force microscopy, fourier transform infrared spectroscopy, ultraviolet visihle and near-infra-red spectroscopy and contact angle measure etc. Experimental results show that the light transmission of AF2400 - SiO2 composite film is 97.7 % at 355 nm and the refractive index is 1.21. The AF2400 - SiO2 composite films are of fine hydrophobic performance and optical performance.

关 键 词:光学薄膜 制备 溶胶-凝胶工艺 AF2400-SiO2疏水减反复合薄膜 无定形氟聚合物AR2400 

分 类 号:TN249[电子电信—物理电子学] O484.4[理学—固体物理]

 

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