JTAG软核设计与仿真  

JTAG Soft Core Define and Emulation

作　　者：吕彩霞[1] 李哲英[2] 

机构地区：[1]北京交通大学电子信息工程学院电子工程系,北京100044 [2]北京联合大学信息学院,北京100101

出　　处：《电脑知识与技术》2006年第8期135-136,共2页Computer Knowledge and Technology

摘　　要：JTAG边界扫描测试是一种新型的VLSI电路测试及可测试性设计方法。本文论述了边界扫描技术的结构特征及软核设计方法,并分析了JTAG电路中数据传输的路径及电路对速度的影响,以采样指令为例进行了功能仿真。Boundary-scan technology is a new and effective way of test and design-for-testability for VLSI circuits. In the paper the boundary-scan the configuration character and soft core design methods are introduced. This paper also analyze the route of data transfers and effect on speed in JTAG circuit, taking sampling instruction for example, function of soft core is emulated.

关 键 词：JTAG 边界扫描 逻辑仿真 

分 类 号：TP312[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]