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机构地区:[1]湖南大学材料科学与工程学院,长沙410082
出 处:《物理学报》2006年第8期4197-4201,共5页Acta Physica Sinica
基 金:教育部博士点基金(批准号:20040532014);中国科学技术大学国家同步辐射实验室开放基金(批准号:20041006G)资助的课题.~~
摘 要:采用X射线吸收精细结构光谱探索性地研究了多壁碳纳米管束.在多壁碳纳米管束不同入射角的X射线吸收精细结构光谱中,观察到C—Hσ共振峰强度随入射角的变化而发生变化.在常温常压下出现C—H键可能与多壁碳纳米管束中存在缺陷有关,缺陷数量越大C—Hσ共振峰的强度越大.光谱中C—Cπ和C—Cσ共振峰强度的变化趋势都不同于C—Hσ共振峰,这有力地证明了在常温常压条件下氢原子是吸附在多壁碳纳米管内表面的缺陷上.这些结果表明X射线吸收精细结构光谱是表征碳纳米管的有力工具.Multiwalled carbon nanotube bundles have been investigated with the near-edge X-ray absorption fine structure (NEXAFS) spectra. In the angle-dependent NEXAFS spectra of multiwalled carbon nanotube bundles, a change of the intensity of the C-Hσ* with the synchrotron radiation light incident angle has been observed. The presence of the C-H bond at room temperature and ambient pressure may be related to the defects in the carbon nanotubes. Neither the C-Cπ nor the C-Cσ* is similar to the C-Hσ* , which strongly suggests that the hydrogen atoms are adsorbed on the defects on the interior surface of the wall of carbon nanotubes at room temperature and ambient pressure. These results indicate that NEXAFS spectrum is a powerful tool for the investigation of multiwalled carbon nanotube bundles.
关 键 词:X射线吸收精细结构光谱 碳纳米管 储氢 化学吸附
分 类 号:TB383.1[一般工业技术—材料科学与工程]
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