TGC放大器成形甄别器及测试系统  

The TGC amplifier shaper discriminator boards and their inspection system

作　　者：李锋[1] 金革[1] 杨涛[1] 虞孝麒[1] 

机构地区：[1]中国科学技术大学近代物理系,合肥230026

出　　处：《核技术》2006年第8期614-618,共5页Nuclear Techniques

基　　金：国家自然科学基金国际合作重大项目(0051140291)资助

摘　　要：本文分析了ASD板在ATLAS探测器最外层的μ子探测器中的工作环境以及作用,并按照其对ASD板质量的要求设计了一套对ASD板质量的专用批量测试系统。本文详细叙述了测试系统的构成、测试原理以及对ASD板的测试结果。In this paper, the working environment and the functions of Amplifier-Shaper-Discriminator （ASD） boards for TGC in ATLAS Muon Spectrometer is introduced and a special inspection system for ASD boards is described based on the requirement in the ATLAS experiment. The testing principle and inspection results of a large quantity of ASD boards inspected by the system are also described in detail.

关 键 词：TGC ASD 测试系统 设计 

分 类 号：TL7[核科学技术—辐射防护及环境保护]