光栅投影三维测量中一种新的线条纹细化算法  

A New Thinning Algorithm for Linear Stripe Image in 3-D Profilometry Based on Grating Projection

作　　者：潘淑杰[1] 董守平[1] 刘艳[1] 

机构地区：[1]中国石油大学(北京)机电工程学院,北京102249

出　　处：《科学技术与工程》2006年第17期2772-2773,共2页Science Technology and Engineering

摘　　要：针对光栅投影三维测量中的线条纹,提出了一种新的条纹细化方法。实验证明,该算法获得了理想的处理效果。A new thinning algorithm for liner stripe image in 3-D profilometry measurement using grating projection is proposed. Experiment proved that perfectly effect can be achieved by using this algorithm.

关 键 词：二值图像 细化 算法 模板 

分 类 号：TP391[自动化与计算机技术—计算机应用技术]