用于HREM分析的位错结构模型  

作　　者：陈一[1] 胡岗[1] 郑国祥[1] 严学俭[1] 吴晓京[1] 

机构地区：[1]复旦大学材料科学系,上海200433

出　　处：《电子显微学报》2006年第B08期133-134,共2页Journal of Chinese Electron Microscopy Society

关 键 词：结构模型 HREM 位错 高分辨电子显微术 

分 类 号：TN16[电子电信—物理电子学]