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机构地区:[1]清华大学精密仪器与机械学系光盘国家工程研究中心,北京100084
出 处:《清华大学学报(自然科学版)》2006年第8期1409-1413,共5页Journal of Tsinghua University(Science and Technology)
基 金:国家"九七三"重点基础研究项目(G19990330)
摘 要:为了解决CD-R盘片测试仪中,对未记录CD-R盘的高精度主轴恒线速控制问题,提出了一种基于数字P ID(比例积分微分)和锁相环的二级高精度主轴恒线速控制方法。该方法用从CD-R盘上读取的摆动时钟信号作为控制反馈量,结合了数字P ID的快速性和锁相环的高精度,使用数字P ID控制光盘主轴电机快速接近一倍恒线速,之后切入锁相环实现高精度恒线速控制。对二级高精度主轴恒线速控制方法进行了研究,合理选择了控制参数。仿真和实验结果表明,系统调整时间优于0.2 s,控制精度优于0.03%,完全可以满足CD-R盘片测试仪的需要。A two-stage, high precision spindle constant linear velocity (Ct.V) control method was developed for CD+R disk test instruments, The method is based on a digital PID (proportionalintegral-derivative) controller and phase-locked loop, using the wobble clock read from the CD-R disk as the feedback signal. The system combines the speed of the digital PID controller and the high precision of the phase-locked loop. The digital PID controller is used to let the spindle approach the specified constant linear velocity, with the phase locked loop then used to provied high control precision, Test results verified the controller design. Simulations and test results show that the control system can adjust the speed within 0, 2 s and the control accuracy is better than 0. 03%,
关 键 词:数字PID CD-R摆动时钟 主轴 恒线速 锁相环
分 类 号:TP272[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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