双参数指数分布异常数据T型检验统计量的精确分布和检验效率  

The Accurate Density Function and Testing Efficiency of the T-Type Test Statistic

作　　者：李云飞[1] 

机构地区：[1]西华师范大学数学与信息学院,四川南充637002

出　　处：《西华师范大学学报（自然科学版）》2006年第3期296-299,共4页Journal of China West Normal University(Natural Sciences)

基　　金：西华师范大学科研启动基金资助项目(05B011)

摘　　要：针对双参数指数分布样本中出现的多个异常大数据提出的T型检验统计量,推导出了其概率密度函数的精确表达式,利用该结果可以得到T型检验统计量的临界值.进一步讨论了该统计量的检验效率,表明利用T型检验可以避免M ask ing效应.Literature [ 1 ] gives T-type test statistic for detecting many outliers from the two-parameter exponential distribution. Based on literature [ 1 ], the paper derives the accurate density function of T-type test statistic. The paper also discusses the testing efficiency and the discussion indicates the test statistic can avoid the masking effect.

关 键 词：双参数指数分布 异常数据 检验统计量 检验效率 Masking效应 

分 类 号：O212.1[理学—概率论与数理统计] O212.7[理学—数学]