基于Wiener滤波器的波形比较方法及其在最坏情况分析中的应用  

Wiener Filter Based Waveform Comparison Method and Its Application in Worst Case Analysis

作　　者：黄植希[1] 陆伟成[1] 张鹏[1] 唐璞山[1] 曾璇[1] 

机构地区：[1]复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室,上海201203

出　　处：《复旦学报（自然科学版）》2006年第4期512-516,共5页Journal of Fudan University：Natural Science

基　　金：国家"八六三"计划资助项目(2004AA1Z1050);国家自然科学基金资助项目(90307017;60176017;90207002);国家重点基础研究发展计划资助项目(2005CB321701);上海市科委重点基础研究资助项目(04JC14015);上海应用材料研究与发展基金资助项目(0418)

摘　　要：提出一种基于Wiener滤波器的波形比较方法,应用于数模混合电路的最坏情况分析.该方法能考虑一定的时间容限和信号容限,自动比较电路在不同的工艺参数、电压和温度(PVT)组合下的仿真波形,通过波形形状的比较来实现电路性能验证,有效地提高了电路验证效率.此方法成功地运用到波形比较软件系统中,并已在Intel技术开发(上海)公司内部推广使用.A novel waveform comparison method based on Wiener filter is presented for worst case analysis. Sets of simulation of different process parameters, voltages and temperatures （PVT） can be compared automatically by the method taking some time tolerance and signal tolerance into account, to speed up mixed-signal simulation check. The resulted waveform comparison system has been successfully integrated into the design flow in flash design of Intel Inc.

关 键 词：WIENER滤波器 波形比较 最坏情况分析 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学] TP391[自动化与计算机技术—计算机应用技术]