对自缩序列生成器的错误攻击  

Fault analysis for self-shrinking generator

作　　者：高军涛[1] 胡予濮[1] 李雪莲[1] 

机构地区：[1]西安电子科技大学计算机网络与信息安全教育部重点实验室,陕西西安710071

出　　处：《西安电子科技大学学报》2006年第5期809-813,共5页Journal of Xidian University

基　　金：国家自然科学基金资助项目(60273084);高等学校博士点基金资助(20020701013);现代通信国家重点实验室项目(51436030105DZ0105)

摘　　要：通过改变线性反馈移位寄存器的内部状态对自缩生成器实施了错误攻击,通过修改控制时钟对互缩生成器进行了相移错误攻击.结果表明,对于互缩生成器,攻击者仅需实施n=max{n1,n2}次的相移延迟就可以获得密钥种子.对于自缩生成器,攻击者至多改变n次寄存器的比特值就可以获得密钥种子.A fault attack on the self-shrinking generator is presented by changing the internal states in the linear feedback shift registers. Besides, a shifts attack on the shrinking generator is described by modifying the control clock. Results show that, for the shrinking generator, the attacker can obtain the secret keys by implementing n = max{n1 ,n2 } times phase shift attacks, and that for the self-shrinking generator, the attacker can obtain the secret keys by changing the bit values in n registers.

关 键 词：错误攻击 自缩生成器 互缩生成器 

分 类 号：TN918.1[电子电信—通信与信息系统]