成像光谱学X(SPIE Vol．5546)  

作　　者：顾聚兴 

出　　处：《红外》2006年第10期47-48,共2页Infrared

摘　　要：一、传感器设计与性能分析 1．用于一级高光谱成像传感器系统设计的参数分类研究法与工具（TerrenceS．等）

关 键 词：成像光谱学 传感器设计 传感器系统 性能分析 光谱成像 研究法 

分 类 号：TP73[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]