检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]Princeton University, Princeton, NJ, USA [2]Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA, USA (Eds.) [3]中国科学院力学研究所
出 处:《国外科技新书评介》2006年第9期9-10,共2页Scientific & Technology Book Review
摘 要:本手册全面地介绍在纳米尺度上观察、描述、测量和操作材料技术的现状,论题涉及共焦光学显微技术、近场扫描光学显微技术、各种扫描探测显微技术、离子与电子显微技术、电子能量损失与X射线光谱学和电子束平板印刷技术等。每个课题均由该领域有重大贡献的世界级科学家撰写。
关 键 词:技术手册 近场扫描光学显微技术 纳米技术 电子显微技术 X射线光谱学 电子能量损失 纳米尺度 材料技术
分 类 号:TN253[电子电信—物理电子学]
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