基于墙面反射模型进行暗室性能分析的新方法  

A Novel Method to Analyze the Performance of Anechoic Chamber Based on a Wall Reflection Model

作　　者：王泗宏[1,2] 黄惠明[2] 李军[2] 肖顺平[1] 

机构地区：[1]国防科学技术大学电子科学与工程学院,湖南长沙410073 [2]北京跟踪与通信技术研究所,北京100094

出　　处：《飞行器测控学报》2006年第5期51-54,共4页Journal of Spacecraft TT&C Technology

摘　　要：建立了墙面反射模型,用于根据雷达精度试验的要求计算微波暗室单个墙面的最大反射系数。进而可据此选择具有相应吸波性能的吸波材料。模型验证结果表明,计算结果比传统方法更具有工程应用价值。A wall reflection model is established to meet accuracy requirements of radar tests, and it can be used to compute the maximum reflectance of a single wall in an anechoic chamber. Based on the results, corresponding wave-absorber can be selected. Validation results indicate that the wall reflection model can be more widely used in engineering than experiential methods.

关 键 词：微波暗室 反射区 反射系数 方向图 

分 类 号：TN82[电子电信—信息与通信工程]