酞菁感光膜光衰表面电位仪的研制  

作　　者：金祥凤[1] 周淑琴[1] 

机构地区：[1]中国科学院化研究所

出　　处：《复印》1996年第2期24-26,共3页

摘　　要：本文介绍了作者研制的光衰表面电位仪和用该仪器测量了酞菁感光膜的光度表面电位曲线，得到了以金属Ｘ－型酞菁为载流子产生材料（ＣＧＭ）的感光膜的残余电位为４２Ｖ，暗衰为９０，３％和感光灵敏度１０ｅｒｇ／ｃｍ＾２，这一组数值与同一试样的日本产的ＳＰ－４２８型静电子分析仪所测得的数据相似，说明作者研制的光衰表面电位仪具有灵敏度高，性能可靠，操作简单和成本低等特点。

关 键 词：酞菁 感光体 光衰表面电位仪 电位仪 复印机 

分 类 号：TB852.03[一般工业技术—摄影技术]