由复位电路引发的复杂故障表现及“模拟”试验(找经验)  

在线阅读下载全文

作  者:梁长福 

出  处:《家电检修技术》2006年第12期10-10,共1页

关 键 词:故障表现 复位电路 长虹C2169 试验 模拟 引发 电路组成 

分 类 号:TP368.1[自动化与计算机技术—计算机系统结构]

 

参考文献:

正在载入数据...

 

二级参考文献:

正在载入数据...

 

耦合文献:

正在载入数据...

 

引证文献:

正在载入数据...

 

二级引证文献:

正在载入数据...

 

同被引文献:

正在载入数据...

 

相关期刊文献:

正在载入数据...

相关的主题
相关的作者对象
相关的机构对象