飞秒电子衍射系统的静态特性研究  

Static properties of a femtosecond electron diffraction system

作　　者：刘运全[1] 梁文锡[1] 张杰[1] 吴建军[2] 田进寿[2] 王俊峰[2] 赵宝升[2] 

机构地区：[1]中国科学院物理研究所,北京100080 [2]中国科学院西安光学精密机械研究所瞬态光学国家重点实验室,西安710068

出　　处：《物理学报》2006年第12期6500-6505,共6页Acta Physica Sinica

基　　金：国家自然科学基金(批准号:60321003;10575129)资助的课题.~~

摘　　要：超快电子衍射系统是认识超快物理、化学及生物过程的重要工具之一.介绍了自主研制的一套飞秒电子衍射系统,调试并测量了该系统的电子束斑特性、X-Y偏转板的偏转灵敏度等.在该系统上进行了金膜的静态电子衍射图像的测量.Ultrafast electron diffraction is an important technique to study the ultrafast phenomenon in physical, chemical and biological processes. This paper introduces a femtosecond electron diffractometer, The diameter of electron beam and deflection sensitivily of X-Y deflection plates are reported. We also demonstrate the static diffraction pattern of a 300 nm thick gold film taken by the femtosecond electron diffractometer.

关 键 词：飞秒电子衍射 偏转灵敏度 时间分辨 空间分辨 

分 类 号：O481[理学—固体物理]