450ke V锥束CT系统的散射校正研究  

X-ray scatter correction algorithm for 450ke V cone-beam CT system

作　　者：李双镭[1] 张丽[1] 陈志强[1] 高河伟[1] 

机构地区：[1]清华大学工程物理系,北京100084

出　　处：《核电子学与探测技术》2006年第6期908-911,共4页Nuclear Electronics & Detection Technology

基　　金：教育部博士点基金资助(20030003074)

摘　　要：在450keV锥束工业CT成像系统中,对投影数据进行适当的散射校正是一步重要的数据校正。结合国内外散射校正方法研究的现状,对一种用散射校正板来进行散射校正方法的原理和实现进行了深入的研究。实验结果表明,这种校正方法能够对450KeV锥束CT成像系统进行有效地散射校正。In our 450KeV cone-beam CT system, scatter correction is important in image data processing. Based on the current technique of scatter correction domestic and abroad, this paper studied the principle and application of the ＂Beam Stop Array＂ technique for scatter correction. The experiments indicate that this algorithm is an effective method for scatter removal in 450KeV cone-beam CT system.

关 键 词：散射校正 散射校正板 BEAM STOP ARRAY CT 

分 类 号：TN911.73[电子电信—通信与信息系统]