一种新型负折射率微波媒质的设计与仿真模拟  

作　　者：曹云建[1] 文光俊[1] 吴凯敏[1] 徐新河[1] 

机构地区：[1]电子科技大学通信与信息工程学院,成都610054

出　　处：《科学通报》2006年第22期2612-2617,共6页Chinese Science Bulletin

基　　金：国家自然科学基金(批准号:60571024);电子科技大学青年科技重点基金(批准号:JX04001)资助.

摘　　要：提出了以外加磁场作用时磁导率为负的亚铁磁材料-YIG为基体，在其中嵌入等效介电常数为负的金属导体线周期阵列结构构造出负折射率微波媒质的新方法．设计了一种C／X波段负折射率微波媒质，并利用基于三维时域有限积分法的电磁场仿真程序模拟了复合媒质的电磁特性．仿真结果表明，在导体线周期阵列结构的等效介电常数为负的7．02—9．80GHz频带与基体YIG等效磁导率为负的5．22-8．14GHz频带相重叠的7．51-8．13GHz带宽内，入射电磁波能通过复合媒质，并在复合媒质与常规正折射率媒质的交界面处发生了负折射现象，证实了复合媒质在该带宽内等效折射率为负，验证了新型负折射率微波媒质设计方法的可行性．

关 键 词：亚铁磁材料 铁磁材料 YIG 负折射率媒质 电磁仿真 

分 类 号：O441[理学—电磁学]