检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:郭维廉[1,2,3]
机构地区:[1]天津工业大学信息与通讯工程学院 [2]专用集成电路国家级重点实验室,石家庄050051 [3]天津大学电子信息工程学院,天津300072
出 处:《微纳电子技术》2006年第12期564-571,581,共9页Micronanoelectronic Technology
摘 要:表征RTD器件特性和性能的参数分为直流负阻、等效电路及频率响应和开关时间三类。系统全面地介绍这三类参数及其测量方法,为测量和评价RTD的器件性能打下良好的基础。The parameters for characterizing the RTD device performance and device characteristics can be divided into following three classes: D.C. NDR parameters; equivalent circuit parameters; frequency response and switching time. The three kinds of parameters and measuring methods were introduced systematically and completely. It makes a good basis for measuring and evaluating the device performance of RTD.
关 键 词:RTD特性和测量 测量方法 直流参数 电路参数 瞬态参数
分 类 号:TN31[电子电信—物理电子学]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.63