平板检定与测量300问  

出　　处：《机械设计》2006年第12期58-58,共1页Journal of Machine Design

摘　　要：平板是用于工件检测或划线的平面基准器具，已广泛用于精密制造和精密测量中。由于在平板上可以完成许多复杂的空间几何测量，具有快速、准确、简便、经济的优点，因此受到世界各国的重视。本书内容包括平板的结构性能、技术要求、检定方法、测量器具、评定原则、数据处理、精度评估和应用实例。

关 键 词：平板检定 精密测量 测量器具 平面基准 工件检测 精密制造 几何测量 结构性能 

分 类 号：TB92[一般工业技术—计量学]