一种A/D转换器静态参数的低成本测试方法  

Low-cost test approach to the static parameters of A/D converter

作　　者：李坤[1] 冯建华[1] 李素君[2] 赵雪莲[2] 

机构地区：[1]北京大学信息科学技术学院微电子系,北京100871 [2]北京自动测试研究所,北京100088

出　　处：《仪器仪表学报》2006年第12期1563-1568,共6页Chinese Journal of Scientific Instrument

基　　金：国家自然科学基金(90207018;60576030)资助项目

摘　　要：在IC产业链中,测试是必不可少的环节之一,而如何降低过高的测试成本也逐渐成为研究的热点。本文基于伺服环方法和权位点测试法提出了一种A/D转换器静态参数的低成本测试方法,并在自主开发的JC-3196A集成电路测试系统上实现。该方法具有普遍的适用性,对降低数模混合信号集成电路的测试成本具有重要意义。A new A/D converter test approach based on servo-loop method and weights output code test is shown to have several advantages of low-cost over the traditional histogram test method. The proposed scheme is a very useful solution to minimize the cost of A/D converter test, especially for high resolution A/D converters. Besides,the hardware and software design is to some extent universal and is easily to implement in other ATEs.

关 键 词：模数转换器 静态参数 伺服环 权位点 低成本测试 

分 类 号：TN47[电子电信—微电子学与固体电子学]