提高TMS320LF2407A内部A/D采样精度和范围的方法  

作　　者：李超[1] 陈培锋[1] 

机构地区：[1]华中科技大学光电子科学与工程学院,湖北武汉430074

出　　处：《电子技术应用》2006年第12期53-54,58,共3页Application of Electronic Technique

摘　　要：一种提高TMS320LF2407A内部A/D采样精度和采样范围的方法。该方法解决了内部A/D的采样幅值为0～3.3V的瓶颈,并采用TMS320LF2407A内部A/D的两个独立的模拟转换通道的排序器SEQ1和SEQ2对采样对象进行分离,在不影响采样速率的情况下提高A/D的采样精度。

关 键 词：数字信号处理器 TMS320LF2407A 数据采集 

分 类 号：TP336[自动化与计算机技术—计算机系统结构]