软基底薄膜热敏电阻器的失效分析  

Research on Failure Analysis of Flexible Substrate Thin-film Thermistor

作　　者：周立军[1] 谢军[1] 孙承松[1] 

机构地区：[1]沈阳工业大学

出　　处：《传感器技术》1996年第6期9-11,共3页Journal of Transducer Technology

基　　金："八五"国家重点科技攻关项目

摘　　要：对软基底薄膜热敏电阻器的可靠试验进行了研究，由试验数据找出失效原因，并提出改进措施。Reliability test of flexible substrate thin-film thermistor is researched. The reasons of failure from the testing date are found and improved advices are pointed out.

关 键 词：薄膜 热敏电阻器 软基底 可靠性 失效分析 

分 类 号：TM544.01[电气工程—电器]