用光散射法研究WO_3膜的微粗糙结构及其对变色特性的影响  

Study on the Relationship between the Specifications of Electrochromatic Layer WO3and Its Surface Microroughness with the Method of Light Scattering Detection

作　　者：赵德康[1,2] 

机构地区：[1]现代光学仪器国家重点实验室 [2]浙江大学

出　　处：《光电子．激光》1996年第5期298-301,324,共5页Journal of Optoelectronics·Laser

摘　　要：本文使用光散射空间分布自动测量系统对由热蒸发得到的电致变色层ＷＯ３的散射及微粗糙结构分布作了测量和分析。依据实验结果探讨了该结构与其变色特性的关系。The author analyzed the microroughness structure of heat vaporized electrochromatic layer WO3through measuring the angular distribution of its scattering, and discussed the relationship between the specifications of WO3and its microroughness status.

关 键 词：电致变色器件 变色特性 光散射法 功能薄膜器件 

分 类 号：O484[理学—固体物理] TN203[理学—物理]