X-射线荧光光谱法测定颗粒灰中二氧化硅、氧化钙、氧化镁  

作　　者：魏海玉[1] 秦玲玲[1] 陶蕊[1] 

机构地区：[1]石家庄钢铁股份有限公司品质管理部,河北石家庄050031

出　　处：《冶金分析》2006年第6期82-83,共2页Metallurgical Analysis

关 键 词：X-射线荧光光谱法 二氧化硅 颗粒 测定 氧化钙 氧化镁 光谱分析方法 人造富矿 

分 类 号：O657.34[理学—分析化学]