微调线绕电位器失效机理分析  

作　　者：张自力 

出　　处：《电子产品可靠性与环境试验》1990年第1期33-35,共3页Electronic Product Reliability and Environmental Testing

关 键 词：微调 电位器 失效机理 线绕型 

分 类 号：TM547.1[电气工程—电器]