X射线荧光光谱分析在考古中应用现状和展望  

X-Ray Fluorescence Analysis in Archaeometry:Application and Expectation

作　　者：朱剑[1] 毛振伟[1] 张仕定[2] 

机构地区：[1]中国科学技术大学科技史与科技考古系,安徽合肥230026 [2]中国科学技术大学理化中心,安徽合肥230026

出　　处：《光谱学与光谱分析》2006年第12期2341-2345,共5页Spectroscopy and Spectral Analysis

基　　金：国家自然科学重点基金项目(10135050);中国科学院知识创新工程项目(KJCX-No4);教育部"985工程"项目(985-2-201)资助

摘　　要：叙述了X射线荧光光谱分析在文物的鉴定、断代、产地及其矿料来源分析、制作工艺和保护等考古研究中的应用现状,指出目前研究工作中亟待解决的一些问题,并展望了XRF技术在考古中的应用前景和发展方向,意在提请X射线荧光光谱分析和考古工作者的注意,共同推动X射线荧光光谱分析在考古研究中的应用向纵深发展,为我国的考古事业做出更大的贡献。This article describes the applications of X-ray fluorescence in archaeology research, including the appraisal, dating, provenance and mine material origin analysis of cultural relic, the study of manufacturing technics and production of cultural relic, etc. It also suggests some expectation and problems, in order to draw attention of X-ray fluorescence analysts and archaeologists, promote the in-depth development of X-ray fluorescence analysis application in archaeology research, and further make more contributions to Chinese archaeology research.

关 键 词：X射线荧光光谱 科技考古 

分 类 号：O657.3[理学—分析化学]