低水峰光纤氢损寿命的评估  

在线阅读下载全文

出  处:《网络电信》2006年第12期57-59,共3页Network Telecom

摘  要:本文介绍了光纤产生氧损的机理,将光纤置于高氢分压气氛中,研究光纤氢吸收损耗特性。通过对数据的分析,预估光纤成缆铺设后使用期间受到氢侵蚀后的衰减增加状况,同时通过1atm高氢压的实验,对AOF光纤在水峰波长的抗氢损能力进行了验证。

关 键 词:G652D光纤 氢损 氢分压 

分 类 号:TN818[电子电信—信息与通信工程]

 

参考文献:

正在载入数据...

 

二级参考文献:

正在载入数据...

 

耦合文献:

正在载入数据...

 

引证文献:

正在载入数据...

 

二级引证文献:

正在载入数据...

 

同被引文献:

正在载入数据...

 

相关期刊文献:

正在载入数据...

相关的主题
相关的作者对象
相关的机构对象