一种测试嵌入式系统性能的新方法  

A New Method of Test on Embedded System's Performance

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作  者:黄坤[1] 吴昆[1] 傅勇[1] 盛翊智[1] 

机构地区:[1]华中科技大学控制科学与工程系,武汉430074

出  处:《计算机与数字工程》2007年第1期58-60,共3页Computer & Digital Engineering

摘  要:在讨论uClinux下中断处理程序和底半步处理程序的基础上,分析了设备的驱动和上层程序的配合调用,并以一种嵌入式通信设备为目标,总结出嵌入式系统运行性能测试的一种新方法。This paper is based on the analysis of interrupt service routine and bottom-half service in uClinux envi- ronment.It discusses the cooperation between device driver and custom procedure。A new method to test the performance of embedded system is also introduced through an embedded device on communication。

关 键 词:嵌入式 E1 测试 

分 类 号:TP306[自动化与计算机技术—计算机系统结构]

 

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