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机构地区:[1]中国工程物理研究院电子工程研究所,四川绵阳621900
出 处:《高压电器》2007年第1期29-31,共3页High Voltage Apparatus
基 金:国家自然科学基金资助项目(10476022);中国工程物理研究院电子工程研究所科研基金资助项目(20050801)
摘 要:高压脉冲电容器的电容量漂移对RLC回路的稳定性会产生不利影响。通过对自然贮存的膜纸复合型高压脉冲电容器电容量的长期跟踪研究,发现高压脉冲电容器电容量的变化存在几个特征明显不同的变化阶段。针对不同阶段的电容量变化趋势,通过理论分析,对产生这种变化的原因进行了合理的解释,并应用对比实验对所提出的解释进行了验证。The capacitance variability of high voltage pulse capacitors is very important to the performance of the RLC circuit. In order to obtain the result of the capacitance variability of high voltage pulse capacitors stored under normal room condition, the experiments have been carried out. The results of the experiments indicate capacitance variation can be marked in several stages with obvious characteristic difference. Aimed at the capacitance variability in different stages, analysis and explanation has been done. And the additional contradistinctive experiments confirm that the conclusions are reasonable.
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