检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:张宛平
机构地区:[1]上海依然半导体测试有限公司
出 处:《电子工业专用设备》2007年第2期4-5,57,共3页Equipment for Electronic Products Manufacturing
摘 要:集成电路设计业的兴旺带来大量的设计验证测试需求,测试既是集成电路产业链中的一环,也是集成电路产品验证出厂的关键,探针卡就是介于自动测试系统与IC芯片之间,用于封装前测试IC产品功能参数的精密界面卡,它与集成电路的设计和测试封装密不可分。
关 键 词:探针卡 集成电路设计业 本土化 测试需求 制作 设计验证 自动测试系统 IC产品
分 类 号:TN405.94[电子电信—微电子学与固体电子学]
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