集成电路知识产权保护及司法鉴定探讨  

Protection and Forensic Evaluation of Intellectual Property of Integrated Circuits

作　　者：王桂海[1] 罗苏平[1] 

机构地区：[1]华南师范大学计算机学院,广东广州510631

出　　处：《中国司法鉴定》2007年第1期36-39,共4页Chinese Journal of Forensic Sciences

摘　　要：对我国的集成电路布图设计采用专门法保护进行了讨论,并结合司法鉴定案例,对原创性和相似性比较进行分析。The protection of layout designs of integrated circuits by special law in China is discussed. A case of infringement is presented to demonstrate the comparison of originality and similarity of integrated circuits.

关 键 词：集成电路 布图设计 知识产权 司法鉴定 

分 类 号：TN4[电子电信—微电子学与固体电子学]